ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্ট কেন করা হয়| জানুন বিস্তারিত

0
97
Transformers Short Circuit Test

প্রিয় পাঠক বরাবরের মত আজকে আমরা ট্রান্সফরমার সম্পর্কে অর্থাৎ ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্ট সম্পর্কে বিস্তারিত জানবো।

ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্ট

ট্রান্সফরমারের একদিকে শর্ট করে অন্য সাইডে ভ্যারিয়েকের সাহায্যে রেটেড ভোল্টেজের খুব কম ভোল্টেজ সাপ্লাই দিয়ে যে টেস্ট করা হয় তাকে শর্ট সার্কিট টেস্ট বলে। এ ক্ষেত্রে লো ভোল্টেজ সাইড মোটা কপার তার বা অ্যামিটার দ্বারা শর্ট করে রাখা হয়। হাই ভোল্টেজ সাইডে ওয়াটমিটার, অ্যামিটার, ভোল্টমিটার যথারীতি সংযোজন করে একটি ভ্যারিয়েক বা ভোল্টেজ রেগুলেটরের সাহায্যে খুব ধীরে ধীরে শূন্যমান হতে ভোল্টেজ বৃদ্ধি করা হয়। ট্রান্সফরমারের জানা রেটেড কারেন্ট অ্যামিটারে প্রবাহিত হলে আর ভোল্টেজ বৃদ্ধি করা হয় না। ঐ অবস্থায় ওয়াটমিটার রিডিং সম্পূর্ণটাই কপার লস হিসেবে ধরা হয়। যদিও এর মধ্যে সামান্য কিছু পরিমাণ কোর লস, স্ট্রে লস থাকে, তবুও তা উপেক্ষা করা হয়। কারণ যেহেতু হাই সাইডে ভেরিয়্যাকের মাধ্যমে আরোপিত ভোল্টেজ খুবই কম, সেজন্য কোরে সে অনুপাতে মিউচুয়াল ফ্লাক্সও খুবই কম উৎপন্ন হয়। আবার যেহেতু কোর লস Φm² এর সমানুপাতিক। সেজন্য বলা যায় কোর লস প্রায়ই শূন্য।

কাজেই ওয়াটমিটার শুধুমাত্র কোর লসই নির্দেশ করবে। এখানে লক্ষণীয় যে ট্রান্সফরমারের একদিকের ওয়াইন্ডিং শর্ট সার্কিট করা থাকে, সেজন্য অপর পার্শ্বে আরোপিত ভোল্টেজও খুব কম দিতে হয়। ট্রান্সফরমারের প্রাইমারি ওয়াইন্ডিং এ রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হলে স্বাভাবিকভাবেই সেকেন্ডারিতেও রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হবে।এখন ওয়াটমিটার রিডিং থেকে কপার লস Wsc বা Psc=isc²Re watt
Ze= Vsc/isc Ω
Re=Wsc/(isc)² Ω
Xe=√(Ze²–Re²) Ω
শর্ট সার্কিট অবস্থায় পাওয়ার ফ্যাক্টর cosθs=Wsc/iscVsc
Re=Ze cosθs
Xe=Ze sinθs

থ্রি ফেজ ট্রান্সফরমারে শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় থ্রি ফেজ ভোল্টেজ এবং কারেন্টের গড় মান টেস্ট ডাটা হিসাবে ব্যবহৃত হয়। থ্রি ফেজ ট্রান্সফরমারে তিনটি ইম্পিডেন্স পরিমাপের জন্য প্রতি জোড়া কয়েলে পরিমাপ করতে হয়। এক্ষেত্রে তৃতীয় কয়েলটি ওপেন রাখা হয়।

শর্ট সার্কিট টেস্টের উদ্দেশ্য
  1.  রেজিস্ট্যান্স
  2.  রিয়্যাকট্যান্স
  3. সমতুল্য ইম্পিডেন্স
  4. কপার লস
  5. ইফিসিয়েন্সি এবং রেগুলেশন।

শর্ট-সার্কিট টেস্টে লো-সাইড শর্ট করা হয়

এ টেস্টের সময় ট্রান্সফরমারের যে কোন সাইড শর্ট করা যায় তবে নিম্নলিখিত কারণে লো-সাইড শর্ট করা হয়।

  1. লো রেঞ্জের ইন্সট্রুমেন্ট হাই সাইডে সংযোগ করার সুবিধা পাওয়া যায় কারণ হাই সাইডে নিম্নমানের কারেন্ট প্রবাহিত হয়।
  2. লো ভোল্টেজ সাইডে ফুল লোড কারেন্টের তুলনায় হাই সাইডে ফুল লোড কারেন্টের পরিমাণ কম থাকে।
  3. এ অবস্থায় আরোপিত ভোল্টেজ রেটেড ভোল্টেজের ৫% সাপ্লাই দেয়া হয়।
  4. ওয়াটমিটার উভয় ওয়াইন্ডিং এর কপার লস রেটেড আউটপুটের ৩% এর নিচে পরিমাপ করে, সুতরাং হাই সাইডে পরিমাপ করা সুবিধাজনক।
শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় ওয়াট মিটার
শুধু কপার লস নির্দেশ করে

এ টেস্টের আরোপিত ভোল্টেজ রেটেড ভোল্টেজের ৫% থেকে ১০% এর মধ্যে সীমাবদ্ধ থাকে। ফলে কোরে নরমাল মিউচুয়াল ফ্লাক্স এর চেয়ে অনেক কম মিউচুয়াল ফ্লাক্সের সৃষ্টি হয়। যেহেতু মোটামুটিভাবে কোর লস Φm² সেহেতু কোর লস বাস্তবক্ষেত্রে শূন্য হয়। সুতরাং ওয়াটমিটার রিডিং এর সম্পূর্ণটাই কপার লস হিসেবে বিবেচিত হয়।

শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় রিওস্ট্যাটের
প্রয়োজনীয়তা

শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় প্রাইমারি সাইডে রিওস্ট্যাট বা ভ্যারিয়েক সংযোগ করে ভোল্টেজ কম বেশি করে রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত করানো হয়। প্রাইমারি সাইডে রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হলে স্বাভাবিকভাবে শর্ট সার্কিট সেকেন্ডারিতেও তার রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হবে। এ ধরনের টেস্টে প্রবাহিত রেটেড কারেন্ট সবসময় সঠিক মানে রাখার জন্য রিওস্ট্যাট বা ভ্যারিয়েকের প্রয়োজন হয়।

শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় শতর্কতা
  1. ট্রান্সফরমারের লো সাইডের টার্মিনালদ্বয় মোটা রেজিস্ট্যান্সবিহীন কপার ওয়্যার দ্বারা অথবা একটি অ্যামিটার দ্বারা শর্ট করে নিতে হয়।
  2. লো রেঞ্জের মেজারিং ইন্সট্রুমেন্ট, যেমন অ্যামিটার, ভোল্টমিটার, ওয়াটমিটার প্রভৃতিকে যথাযথ হাই সাইডে সংযোগ করতে হবে।
  3. ইনপুট সাইডে অর্থাৎ হাই সাইডে একটি ভ্যারিয়েবল রিওস্ট্যাট বা ভ্যারিয়েক সংযোগ করে শূন্যমান হতে ধীরে ধীরে ভোল্টেজ বাড়াতে হবে যাতে ট্রান্সফরমারে রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হয়।
  4. লো রেঞ্জের ইন্সট্রুমেন্ট ব্যবহার করতে হবে।
  5. টেস্ট চলাকালীন সময়ে বেশিক্ষণ ধরে টেস্ট করা উচিত নয় কারণ ট্রান্সফরমার শর্ট অবস্থায় তাড়াতাড়ি গরম হয়ে যায় এবং এটা ইনসুলেশনের পক্ষে ক্ষতিকর।
Print Friendly, PDF & Email

মন্তব্য ত্যাগ করুন

আপনার মন্তব্য লিখুন।
দয়া করে, আপনার নাম এখানে লিখুন